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热中子的核反应让二维材料的掺杂更清洁

热中子的核反应让二维材料的掺杂更清洁

未来光锥加速器 我是科学家iScientist

从基础的二维材料到金属硫化物,二维层状材料库的规模一直在不断扩大。二维层状材料具备有助于二维材料的新特性,并在下一代电子和光电子器件的研发中具备巨大潜力。


掺杂工艺是控制二维材料特殊性质的有效方法,可应用于逻辑电路、传感器和光电器件。然而,掺杂必须使用额外的化学物质,可能会对材料造成污染。这项技术过往只能在材料合成或器件制造过程中的特定步骤实现。


eLight发表的一篇新论文中,由深圳大学张晗教授和布法罗大学 Paras N Prasad 教授领导的科学家团队了通过中子嬗变掺杂来操纵电子转移。他们题为In-Situ Neutron-transmutation for Substitutional Doping in 2D layeredium Selenide Based Phototransistor的论文首次展示了这一变化。


网页截图


中子嬗变掺杂(NTD)是一种可控的原位置换掺杂工艺,利用的是热中子与半导体中原子核之间的核反应。这种工艺提供了一种无需额外试剂即可掺杂二维材料。它可以被引入到二维材料器件制造过程中的任何步骤,即使在制造完成后也同样可用。


NTD工艺诞生于1975年,应用于硅(Si)、磷化镓(GaP)和磷化铟(InP)等体相半导体。1991年,与锡(Sn)相关的浅施主已经能够通过NTD工艺均匀地引入到块状硒化铟(InSe)晶体中。然而,掺杂硒化铟的载流子密度较低,基于二维层状硒化铟的光电探测器的进一步性能改进。如果可以通过“清洁”方法操纵和优化光电探测器的性能,那么NTD将成为一项极具吸引力的工艺。


a) 二维硒化铟的嬗变掺杂方案,包括捕获热中子以及γ和β粒子的衰变;b) 二维硒化铟器件的方案;c) 嬗变前后器件的时间响应 | 参考文献[1]


研究团队首次实现通过NTD掺杂二维层状硒化铟。他们成功地缩小了带隙并增加了锡掺杂层状硒化铟的电子迁移率,将场效应电子迁移率从 1.92cm2·V-1·s-1 提高到195cm2·V-1·s-1。同时,光电探测器的响应度提高了约 50 倍,达到了397 A/W。


研究团队认为,NTD工艺具有巨大的应用前景,它将为材料技术带来新的重大机遇。NTD工艺可以随时控制和引入掺杂剂,提高器件效率。通过在原子层面上进行掺杂,研究人员可以确保掺杂剂处于正确位置,并精确评估掺杂剂在该位置的影响。同时,NTD工艺还可用于保护人员安全。


参考文献

[1]Guo, Z., Zeng, Y., Meng, F. et al. In-situ neutron-transmutation for substitutional doping in 2D layered indium selenide based phototransistor. eLight 2, 9 (2022). https://doi.org/10.1186/s43593-022-00017-z

[2] https://www.eurekalert.org/news-releases/954658


编译:矩阵星

编辑:靳小明

排版:尹宁流

题图来源:参考文献[1]


研究团队


通讯作者 张晗,教授/博士生导师,国家青年人才、国家优青、OSA Fellow、RSC fellow、全球高被引科学家(2018-2021年)。曾/正担任National Science ReviewPhotonics ResearchNano-photonicsUltrafast Science、《中国激光》《光子学报》等期刊编委或客座编委。长期从事二维光电材料与功能器件研究,以通讯作者发表中科院一区学术论文超过100篇,包括PNAS 1篇、Science Advance 1篇、Nature Communications 4篇、Light Science & Applications1篇、National Science Review 1篇、Advanced Materials 15篇等。以第一作者撰写英文著作Semiconducting Black Phosphorus(Taylor & Francis Group 2021)。4篇论文入选中国百篇最具影响国际学术论文,PNAS论文入选2018年中国光学十大进展-应用研究类,160篇论文引用过百次,ESI高被引论文110篇。全部论文被国内外同行他引超过5万次,H指数130。


论文信息


发布期刊eLight


发布时间 2022年06月06日


论文标题In-situ neutron-transmutation for substitutional doping in 2D layered indium selenide based phototransistor

(DOI:https://doi.org/10.1186/s43593-022-00017-z)


文章领域 二维光电材料


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The End

发布于2022-07-21, 本文版权属于果壳网(guokr.com),禁止转载。如有需要,请联系果壳 。

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